臺(tái)式X熒光光譜儀是通過X射線管產(chǎn)生的X射線作為激光源，激發(fā)光源激發(fā)樣品產(chǎn)生X熒光射線。根據(jù)熒光X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度來確定樣品的化學(xué)組成。作為一種質(zhì)量檢測(cè)手段，X熒光光譜儀在我國(guó)各行各業(yè)應(yīng)用越來越廣泛。研究X熒光光譜儀在分析過程中的誤差，提高儀器的分析準(zhǔn)確度成為重要的課題。今天小編來給大家介紹下來自測(cè)試過程中試樣的誤差。
1、試樣易磨性。有的試樣易磨性較差，對(duì)測(cè)定構(gòu)成影響。
2、試樣成分。有的試樣基本組成成分與標(biāo)準(zhǔn)試樣組成成分不一致，也會(huì)影響測(cè)定結(jié)果。
3、基體效應(yīng)。基體中其它元素對(duì)分析元素的影響，包括吸收和增強(qiáng)效應(yīng)，吸收效應(yīng)直接影響對(duì)分析元素的激發(fā)和分析元素的探測(cè)強(qiáng)度。增強(qiáng)效應(yīng)使分析元素特征輻射增強(qiáng)。
4、不均勻性效應(yīng)。X射線強(qiáng)度與顆粒大小有關(guān)，大顆粒吸收大，小顆粒吸收小，這是試樣粒度的影響。
5、譜線干擾。各譜線系中譜線產(chǎn)生重疊、干擾，還有來自不同衍射級(jí)次的衍射線之間干擾。??
